王中王鉄算盘开奖结果

非常抱歉!网站正在改版中,敬请期待。
功能性粉体服务商

致力于提供世界级非金属矿功能性粉体材料

咨询热线0755-89737290
免费咨询热线

400-888-8888

0577-88888888

云母粉扫描电镜分析

文章出处:未知人气:347发表时间:2018-04-28




   扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)是利用细聚焦电子束在试样表面扫描激发出代表试样表面特征的信号成像的电镜。扫描电镜主要有以下特点:图像富有立体感、真实感、易于识别和解释;适用于粗糙表面和断口的分析观察。

 

  在此次研究们所采用的SEM电镜为日本电子公司JEOL生产的JMF6700F.主机的分辨率为lnm(15kv)22nm(1kv),放大倍数为25'---65 x 105倍。电子光学系统:加速电压O530kv,探针电流10母~lO5A,电子枪为冷阴极场发射型,物镜为强激励圆锥透镜,试样台为共中心测角台自动驱动,XY方向移动范围为70nm x 50nm,转角为03600。

 

  对于块状样品,其高度不能大于5个毫米,为了更好地观测的片层状结构,测试时样品竖直放在样品台上,断口朝上,因为是不导电试样,先要对其进行蒸金处理,对于块体试样,一般要50秒左右;对于粉末样品,将样品撒在粘胶上,然后在进行蒸金处理,时间为10秒左右,为了增强导电性,试样边缘还用导电胶进行了处理。在测试过程中选取合适的放大倍数,得到符合分析要求的SEM照片。

 

马会传真图报2019 上海时时乐 东方心经特马图 资料大全王中王正版 安徽快3走势 2019年香港本港台马会资料开奖记录 2019正版葡京赌侠诗 香港马会全年资枓大全 上海11选5开奖 水果奶奶免费心水